如何進(jìn)行靜電測(cè)試
一般情況下，靜電測(cè)試分為兩種方式，一種為接觸靜電測(cè)試，另一種是非接觸靜電測(cè)試，通常電子元器件的接觸防靜電電壓值要低于非接觸防靜電電壓值。工業(yè)防靜電標(biāo)準(zhǔn)：接觸防靜電電壓6 kV，非接觸防靜電電壓8 kV。
靜電測(cè)試前的準(zhǔn)備工作：
·連接好準(zhǔn)備測(cè)試的設(shè)備，確保測(cè)試前的設(shè)備是正常運(yùn)行的。
·連接好靜電放電測(cè)試儀，確保測(cè)試儀的地線與設(shè)備的地線相互連接，形成放電回路。
1. 接觸靜電測(cè)試
測(cè)試項(xiàng)目包括設(shè)備機(jī)箱外殼，電源接口，控制接口，以及通訊接口等。
測(cè)試電壓標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試靜電電壓從2 kV開(kāi)始增加，每次增加2 kV，直到20 kV為止，即測(cè)試靜電電壓分別為2 kV，4 kV，6 kV，8 kV，10 kV，12 kV，14 kV，16 kV，18 kV，20 kV。
測(cè)試頻率標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試放電分為兩種頻率，但放電次數(shù)均為10次。一種頻率是1秒鐘放電1次，連續(xù)放電10次，為低頻靜電放電測(cè)試；另一種頻率是0.1秒鐘放電1次，連續(xù)放電10次，為高頻靜電放電測(cè)試。
測(cè)試通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)，硬件無(wú)任何損壞，通訊正常，數(shù)據(jù)無(wú)錯(cuò)誤，丟失等情況。
測(cè)試停止標(biāo)準(zhǔn)，在測(cè)試某一項(xiàng)目時(shí)，如果硬件發(fā)生損壞，通訊異常或其他任何不正常的情況，測(cè)試將不向更高標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行，而只統(tǒng)計(jì)當(dāng)前測(cè)試結(jié)果。測(cè)試轉(zhuǎn)為下一項(xiàng)。為提高測(cè)試精度，也可以在測(cè)試設(shè)備出現(xiàn)異常情況時(shí)，先調(diào)低靜電電壓1 kV進(jìn)行測(cè)試，如果測(cè)試通過(guò)，則調(diào)高靜電電壓0.5 kV進(jìn)行測(cè)試，如果測(cè)試不通過(guò)，則繼續(xù)調(diào)低靜電電壓0.5 kV進(jìn)行測(cè)試，依次類推，調(diào)節(jié)幅度不斷減小為0.25 kV，0.125 kV等，直到精度達(dá)到要求為止，統(tǒng)計(jì)臨界靜電電壓測(cè)試結(jié)果。
測(cè)試順序標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試順序?yàn)橄却_定電壓，再確定頻率。電壓由低到高，頻率由慢到快。即依次為2 kV低頻測(cè)試，2 kV高頻測(cè)試，4 kV低頻測(cè)試，4 kV高頻測(cè)試，直到20 kV低頻測(cè)試，20 kV高頻測(cè)試。在提高精度測(cè)試過(guò)程中也同樣遵循先確定電壓，再確定頻率這一原則。
測(cè)試數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試某一項(xiàng)目時(shí)，在某一電壓和頻率下，如果連續(xù)20次測(cè)試通過(guò)，即判定在當(dāng)前狀態(tài)下，系統(tǒng)工作正常；否則統(tǒng)計(jì)連續(xù)20次測(cè)試過(guò)程中出錯(cuò)的次數(shù)，計(jì)算出錯(cuò)的概率，填入測(cè)試數(shù)據(jù)報(bào)表中。
測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)，先將靜電槍對(duì)準(zhǔn)被測(cè)試項(xiàng)目（如：機(jī)箱，各個(gè)接口），移動(dòng)靜電槍至被測(cè)試項(xiàng)目的表面，要求靜電槍與被測(cè)試項(xiàng)目的表面保持垂直且接觸，扣動(dòng)靜電槍扳機(jī)，待10次放電全部結(jié)束后，松開(kāi)靜電槍扳機(jī)，將靜電槍從被測(cè)試項(xiàng)目表面移開(kāi)，準(zhǔn)備下一次測(cè)試。
2. 非接觸靜電測(cè)試
測(cè)試項(xiàng)目包括設(shè)備機(jī)箱外殼，電源接口，控制接口，以及通訊接口等。
測(cè)試電壓標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試靜電電壓從2 kV開(kāi)始增加，每次增加2 kV，直到20 kV為止，即測(cè)試靜電電壓分別為2 kV，4 kV，6 kV，8 kV，10 kV，12 kV，14 kV，16 kV，18 kV，20 kV。
測(cè)試通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)，硬件無(wú)任何損壞，通訊正常，數(shù)據(jù)無(wú)錯(cuò)誤，丟失等情況。
測(cè)試停止標(biāo)準(zhǔn)，在測(cè)試某一項(xiàng)目時(shí)，如果硬件發(fā)生損壞，通訊異常或其他任何不正常的情況，測(cè)試將不向更高標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行，而只統(tǒng)計(jì)當(dāng)前測(cè)試結(jié)果。測(cè)試轉(zhuǎn)為下一項(xiàng)。為提高測(cè)試精度，也可以在測(cè)試設(shè)備出現(xiàn)異常情況時(shí)，先調(diào)低靜電電壓1 kV進(jìn)行測(cè)試，如果測(cè)試通過(guò)，則調(diào)高靜電電壓0.5 kV進(jìn)行測(cè)試，如果測(cè)試不通過(guò)，則繼續(xù)調(diào)低靜電電壓0.5 kV進(jìn)行測(cè)試，依次類推，調(diào)節(jié)幅度不斷減小為0.25 kV，0.125 kV等，直到精度達(dá)到要求為止，統(tǒng)計(jì)臨界靜電電壓測(cè)試結(jié)果。
測(cè)試順序標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試順序?yàn)殡妷河傻偷礁摺＜匆来螢? kV測(cè)試，4 kV測(cè)試，6 kV測(cè)試，直到20 kV測(cè)試。
測(cè)試數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試某一項(xiàng)目時(shí)，在某一電壓下，如果連續(xù)20次測(cè)試通過(guò)，即判定再當(dāng)前狀態(tài)下，系統(tǒng)工作正常；否則統(tǒng)計(jì)連續(xù)20次測(cè)試過(guò)程中出錯(cuò)的次數(shù)，計(jì)算出錯(cuò)的概率，填入測(cè)試數(shù)據(jù)報(bào)表中。
測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)，先將靜電槍對(duì)準(zhǔn)被測(cè)試項(xiàng)目（如：機(jī)箱，各個(gè)接口）且相隔5厘米以上，扣動(dòng)靜電槍扳機(jī)，移動(dòng)靜電槍靠近被測(cè)試項(xiàng)目的表面，移動(dòng)過(guò)程中要求靜電槍與被測(cè)試項(xiàng)目的表面保持垂直，待空氣放電結(jié)束后，將靜電槍從被測(cè)試項(xiàng)目表面移開(kāi)，松開(kāi)靜電槍扳機(jī)，準(zhǔn)備下一次測(cè)試。
注意：
測(cè)試過(guò)程中，某元器件測(cè)試結(jié)果會(huì)因?yàn)樵骷€(gè)體差異而有所不同，如保險(xiǎn)，二極管等，這就需要對(duì)不同的元器件進(jìn)行多次測(cè)量，求出所有元器件測(cè)試結(jié)果的平均值作為最終的測(cè)試結(jié)果。
測(cè)試過(guò)程中，一般情況下，不能直接對(duì)芯片進(jìn)行靜電放電。如有特殊需要，一定要對(duì)某芯片進(jìn)行靜電放電測(cè)試時(shí)，應(yīng)盡量減小每次靜電增加的幅度，這樣可以更好的測(cè)試出防靜電電壓真實(shí)值的接近值，使測(cè)試更加準(zhǔn)確。
測(cè)試過(guò)程中，為保障測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，每次靜電放電結(jié)束后到下次靜電放電開(kāi)始前的時(shí)間間隔不能太小，要留給系統(tǒng)足夠的恢復(fù)時(shí)間，即要留夠系統(tǒng)電荷釋放的時(shí)間，時(shí)間間隔一般為10秒鐘。待系統(tǒng)電荷充分釋放后，才能進(jìn)行下一次測(cè)試。
