CST系統(tǒng)級RS仿真（二）- RS仿真場地較準（掃頻模式）

來源：CST仿真專家之路更新時間：2024-09-03 閱讀：

作者 | Zhou Ming

根據(jù)IEC61000-4-3標準，RS測量時，要保證在距離天線3m處形成一個場強相對均勻的區(qū)域，如下圖所示。

較準時會選擇16個點，逐一進行測量。以10V/m的目標場強為例，只要其中12個點的場強達到10V/m以上，該場地即滿足要求。實際過程中，考慮到調(diào)制后的信號電壓伏值會變大1.8倍左右，功放有可能會出現(xiàn)過載現(xiàn)象。因此，場地較準時會使用更大的更大激勵信號，仿真不用考慮這一點，這也是仿真的優(yōu)勢。

接下來我們通過CST構(gòu)建一個RS測量場地，分別由天線、桌子、以及16個電場probe構(gòu)成。RS場地較準仿真的目的，是確保目標區(qū)域的場強符合標準要求，我們需要得到端口激勵電壓和場強之間的關(guān)系，也就是天線系數(shù)——Antenna Factor。

首先，利用CST時域求解器進行3D仿真，此處省略掉網(wǎng)格、求解器、邊界條件等重要設(shè)置，仿真后可以得到天線的S參數(shù)、遠場方向圖、增益等常用結(jié)果。

RS測量有掃頻和單頻點干擾兩種模式，首先我們用CST來模擬掃頻的測量方式。進入CST的電路工作室，創(chuàng)建AC task，端口激勵電壓為1V，設(shè)置Combine Results。

通過CST場路協(xié)同仿真，我們得到了1V激勵條件下，在3m位置的E-probe上的場強，如下圖所示。整體來看，16個位置的波動在合理范圍內(nèi)。

我們選擇其中一個E-probe的場強，作為計算天線系數(shù)AF的基準，因為激勵信號的電壓是1V，因此這條曲線對應的值就是天線系數(shù)，單位1/m。

接下來，關(guān)鍵問題來了，如果想得到10V/m的場強呢，我們該怎么做呢？根據(jù)天線系數(shù)的定義：天線系數(shù)（Antenna Factor）也稱天線因子，是指天線附近接收的電場強度與天線端口生成的電壓比值。我們只需要做一個簡單的數(shù)學計算，就能得到端口激勵電壓，如下圖所示。