CST總部最新的RCS應用文章
來源：edatop
更新時間：2024-07-02
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RCS的數值計算法中，有矩量法、有限元、有限積分法等；高頻方法中有集合光學法、物理光學法、一致繞射法、物理繞射法。其各自優勢在相關書籍中都有詳盡的說明，這里不做多說。
常見的RCS仿真困難的地方在于：
1、由于電尺寸大因此需要占用巨大系統資源問題
2、各個參量設置對于仿真時間的影響
3、多反射、散射導致的問題的復雜性加大，從而需要保證求解的精度
4、全波仿真中對于頻率提高沒有適當計算方式。
在CST2010版中，對于單方向的單站/雙站RCS問題的解決方案可以通過積分求解器與時域求解器；對于多方向的單站RCS問題，可以通過積分求解器與高頻方法。
其中時域的優勢在于：能計算寬帶RCS，適合電中尺寸以及對于復雜CAD物理模型的RCS能有著較高的精度。
積分求解器優勢在于：適用于計算電大尺寸以及RCS單頻點的角度掃描。
高頻漸進求解器的優勢在于：適用于超電大的理想金屬體，支持RCS角度掃描與寬帶掃描，同時對于復雜物理結構也能保證求解精度。
此外，豐富的后處理、以及對于RAM涂覆材料仿真都能考慮記及。
相信選擇了CST合適的求解器之后，您的RCS問題一定能很好地得到解決。附件中是CST2010版本中關于RCS的各類解決方案，歡迎大家下載參考。
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