使用Agilent矢量網絡分析儀解決射頻和微波測量領域的難題

圖3顯示了在VNA上進行的IMD測量。上圖顯示了使用頻譜分析儀進行的掃描操作。該方法直觀、易懂，但會使用不必要的數據，從而耗費更多的測試時間。下圖顯示的方法更佳，其中的數據主要來自IMD和兩個測試信號。

使用VNA進行的測量相對于其它方法具有兩個突出優點。第一，用戶使用一臺測試儀器和一套連接組件即可獲得全部測量數據：例如S參數、增益壓縮、輸出諧波和IMD。第二，通過VNA基于功率計的校準，可獲得比使用頻譜分析儀更高的測量精度。

由于頻率轉換設備，例如混頻器或轉換器，需要額外的本地振蕩器（LO）信號，故VNA的備用內部源非常適合測試這類設備，。進行掃描LO測試時更是如此，因為可以對擁有固定偏移值的LO信號和射頻輸入信號進行同步掃描。這是測量寬帶頻率轉換器前端元器件頻率響應的常見測試方法。使用VNA的內部信號發生器發出的LO信號可以顯著提高測量速度。例如，相對于使用外部Agilent PSG信號發生器，帶有選件246的N5230A能夠將掃描LO測量的掃描速度提高35倍。圖4顯示了對單階頻率轉換器的測量。上圖顯示了對轉換器IF過濾器的頻率響應進行的固定LO測量。下圖的掃描LO測量顯示了轉換器的前端平坦度。

安捷倫還提供專為混頻器和轉換器測量設計的先進的誤差校正程序。這些程序通過校正測試系統中被測件的輸入匹配和源匹配之間的失配，將轉換損耗或轉換增益測量的失配波動降至最低。目前已經開發了一項類似的技術對混頻器和轉換器群延遲進行低波動絕對測量。

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